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我們的服務(wù)
鍍層厚度檢測(cè)

● 想了解產(chǎn)品涂鍍層質(zhì)量狀況；

● 想改進(jìn)涂鍍層技術(shù)與工藝；

● 想提升產(chǎn)品表面性能；

● 想延長(zhǎng)產(chǎn)品使用壽命。

● 資質(zhì)全  ● 出報(bào)告快    ● 數(shù)據(jù)準(zhǔn)   ● 服務(wù)好


詳細(xì)介紹

鍍層厚度測(cè)量是評(píng)價(jià)電鍍工藝好壞和電鍍產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范要求的一種重要手段。電鍍厚度檢測(cè)方法有破壞法和非破壞法兩大類(lèi)。破壞法主要有顯微鏡法、庫(kù)侖法、重量法、輪廓儀法、掃描電鏡法，非破壞法主要有磁性法、渦流法、X射線光譜法等。

不同鍍層厚度檢測(cè)方法之比較:

檢測(cè)方法

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

適用范圍

顯微鏡法

（金相法）

GB/T 6462

ISO 1463

ASTM B487

JIS H 8501

適合測(cè)量單層或多層金屬覆蓋層厚度

鍍層厚度不小于0.8μm

測(cè)量范圍：1∽數(shù)百μm

庫(kù)侖法

GB/T 4955

ISO 2177

ASTM B504

JIS H 8501

適合測(cè)量單層或多層金屬覆蓋層厚度

常測(cè)鍍層種類(lèi)：Au、Ag、Zn、Cu、Ni、Cr

測(cè)量范圍：0.25∽100μm

磁性法

GB/T 4956

ISO 2178

ASTM B499

JIS H 8501

適用于磁性基體上的非磁性覆蓋層厚度測(cè)量

測(cè)量范圍：5∽7500μm

渦流法

GB/T 4957

ISO 2360

ASTM B244

JIS H 8501

適合測(cè)量非磁性基體上非導(dǎo)電覆蓋層和非導(dǎo)體上金屬覆蓋層厚度

測(cè)量范圍：5∽2000μm

X-射線光譜法

GB/T 16921

ISO 3497

ASTM B568

JIS H 8501

可測(cè)量最多三層的金屬覆蓋層厚度

測(cè)量范圍：0.25∽30μm

掃描電鏡法（SEM）

GB/T 31563

ISO 9220

ASTM B748

JIS H 8501

適合測(cè)量單層或多層金屬覆蓋層厚度

測(cè)量范圍：1∽數(shù)百μm

 

標(biāo)準(zhǔn)參考：

GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量 顯微鏡法

GB/T 4955-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法

GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

GB/T 4957-2003 非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 渦流法

GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層覆蓋層 厚度測(cè)量 X射線光譜方法

GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法

ASTM B487-24通過(guò)橫截面顯微鏡檢查測(cè)量金屬和氧化物涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B504-90(2023) 用庫(kù)侖法測(cè)量金屬鍍層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B499-09(2021)e1 用磁性法測(cè)量磁性基體金屬上的非磁性涂層的涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B244-09(2021) 用渦流儀測(cè)量鋁陽(yáng)極涂層及其它非磁性基體金屬非導(dǎo)電涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B568-98(2021) 用X射線光譜儀測(cè)量覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B748-90(2021) 金屬覆蓋層厚度測(cè)量 掃描電鏡法

JIS H 8501:1999 金屬覆蓋層厚度試驗(yàn)方法